プライマリ
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計器計器
XE 15大サンプル台工業AFM
ナノインプリントプレスPL-S
MPI手動ウェハレベルテラヘルツプローブステーションシステム
電気化学質量分析計
スプレーアナライザ
ファイババブルアナライザ
キャビテーション感受性測定器
蛍光高分光イメージングシステム
高スペクトルカメラ
超分光カメラGRAND-EOS
NX 10高分解能AFM
(25μm)P 150大幅面
NX 12多機能AFM
キャリブレーションサンプル
(2μm)S 130大幅面
小型卓上質量分析計
超分光カメラV-EOS
高スペクトル共焦点システム
白色光干渉計&輪郭計
アーハス150
X線波帯プレート
ナノフーリエ赤外分光計
ハイパースペクトルモジュール
SOIチップステージング
(10μm)P 140標準振幅
Successful operation!